The Optical Properties of Si3N4/SnZnO/AZO/Ag/Ti/ITO Multi-layer Thin Films with Laminating Times
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
control of the optical properties of nanoparticles by laser fields
در این پایان نامه، درهمتنیدگی بین یک سیستم نقطه کوانتومی دوگانه(مولکول نقطه کوانتومی) و میدان مورد مطالعه قرار گرفته است. از آنتروپی ون نیومن به عنوان ابزاری برای بررسی درهمتنیدگی بین اتم و میدان استفاده شده و تاثیر پارامترهای مختلف، نظیر تونل زنی(که توسط تغییر ولتاژ ایجاد می شود)، شدت میدان و نسبت دو گسیل خودبخودی بر رفتار درجه درهمتنیدگی سیستم بررسی شده اشت.با تغییر هر یک از این پارامترها، در...
15 صفحه اولNaNomechaNical ProPerties of siNgle-layer oPtical oxide thiN films
LLE Review, Volume 142 9
متن کاملarchitecture and engineering of nanoscale sculptured thin films and determination of their properties
چکیده ندارد.
15 صفحه اولInvestigation of Structural, Morphological and Optical Properties of Chromium Oxide Thin Films Prepared at Different Annealing Times
Chromium oxide (α-Cr2O3) thin films were prepared using thermal annealing of chromium (Cr)films deposited on quartz substrates by direct current (DC) magnetron sputtering. The annealingprocess of the films was performed for different times of 60, 120,180 and 240 min. The influenceof annealing time on structural, morphological and optical properties of the prepared films wasinvestigated by diffe...
متن کاملDependence of Nanostructure and the Optical Properties of Ni Thin Films with Different Thicknesses on the Substrate Temperature
Nickel films with the thicknesses of 30 and 120 nm were deposited on glass substrates, at different substrate temperatures (313 to 600 K) under uhv condition. The nano-structure of the films and mean diameter of grains was obtained for each films using atomic force microscopy (AFM). Their optical properties were measured by spectrophotometry in the spectral range of 190-2500 nm. Kramers-Kronig ...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
سال: 2015
ISSN: 1226-7945
DOI: 10.4313/jkem.2015.28.1.7